Grants and Contributions:

Grant or Award spanning more than one fiscal year (2017-2018 to 2018-2019).

En nous inspirant des pratiques issues des industries hautement automatisees des semi-conducteurs, ou lex000D
systeme de fabrication est pilote par un dispositif [1] integre de gestion de production et de la qualite [2], nousx000D
souhaitons anticiper la generation de defauts en nous appuyant sur des analyses des signaux des capteurs etx000D
autres mesures internes [3]. De nombreux dispositifs de maitrise existent tant locaux (dit de regulation [4],[5])x000D
que deportes (tels le controle statistiques monodimensionnels ou multi variables [6] [7] [8]). Ces differentsx000D
paliers de surveillance, augmentent la maitrise des actifs de production et collectent de tres nombreusesx000D
donnees. Cependant, les bris mate'riels demeurent une re'alite' et induisent de nombreuses actions correctrices.x000D
La question posee par ce projet de recherche est : Pourrions nous utiliser ces donnees enregistrees pour predirex000D
la performance d'un equipement dans le temps ?